|
번호
|
장비사진
|
장비명
|
사용가능여부
|
장비선택
|
|
1
|
|
점착력측정기
(Adhesion Testing System)
|
사용가능
|
|
|
2
|
|
재질분석기
(Texture Analyzer)
|
사용가능
|
|
|
3
|
|
시차주사열량계
(DSC; Differential Scanning Calorimeter)
|
사용가능
|
|
|
4
|
|
열전도도측정기
(Heat Flow Thermal Conductivity Meter)
|
사용가능
|
|
|
5
|
|
열확산율분석기
(Thermal Diffusivity Analyzer)
|
사용가능
|
|
|
6
|
|
PE/EL 분광광도계
(PL/EL Spectrometor)
|
사용가능
|
|
|
7
|
|
[C-V][I-V] 측정장치
(Precision LCR Meter)
|
사용가능
|
|
|
8 |
|
UV/VIS 분광광도계
(UV/VIS Spectrophotometer)
|
사용가능
|
|
|
9
|
|
OLED 수명측정기
(OLED Lifetime Test System)
|
사용가능
|
|
|
10
|
|
열화상카메라
(Thermal Image Analyzer)
|
사용가능
|
|
|
11
|
|
분광투과 / 반사율계
|
사용가능
|
|
|
12
|
|
스팩트로라디어미터
|
사용가능
|
|
|
13
|
|
3차원 미세표면형상측정기
(3D Nano Surface Profiler)
|
사용가능
|
|
|
14
|
|
표면저항측정기
(4- Point Probe)
|
사용가능
|
|
|
15
|
|
타원편광분석기
(Ellipsometry)
|
사용가능
|
|
|
16
|
|
OLED I-V-L 시스템
(OLED I-V-L System)
|
사용가능
|
|
|
17
|
|
원자현미경
(AFM; Atomic Force Microscopy)
|
사용가능
|
|
|
18
|
|
고속카메라
(High Speed Camera)
|
사용가능
|
|
| |
|
|
|
|
