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DF-1000 X-Ray Fluorescence Spectrometer


X-Ray Fluorescence Spectrometer(X-Ray 형광 분광계)는 금속, 시멘트, 광석, 광재, 내화 재료, 코팅 검사, 이산화 티타늄, 고고학 연구, 금은 산업의 원소에 대한 비파괴 검사와 분석에 적합하며 원소 분석 범위는 Na – U 입니다.

 

DF-1000 XRF 형광 분광계의 성능과 기술

 

주요 성능 특징

1.     Na – U 의 임의의 다중원소 동시분석 및 동시측정 가능합니다.

2.     상단 조명식 설계를 채택하여, 오염을 철저히 없애고 작동이 편리하며 유지보수가 필요치 않습니다.

3.     샘플에 대해 비파괴분석을 진행하며, 편리하고 신속한 분석이 가능합니다.

4.     전면 자동 기기 일체화 설계로, 조작 인터페이스가 간단합니다.

5.     8개 샘플의 자동 시료채취와 샘플검사를 하며, 다층 보호 시스템을 채택하여 인체에 복사되는 X-Ray를 완전히 막아줍니다.


 

6.     양호한 온도 컨트롤러 장비로 기기가 외부 온도변화에 민감하지 않습니다.

7.     샘플의 형태에 대한 요구가 적어서 고체, 액체, 분말 샘플 모두 직접 측정이 가능하며 복잡한 샘플 제작과정이 필요하지 않습니다.

8.     SDD (Silicon Drift Detector)를 사용하여 분석속도와 정확도가 높고 안정성이 좋으며 고장률이 낮습니다.

 

기기 주요 구성도

기기 주요 기술

 

1.     Detector

  • SDD, Silicon Drift Detector (냉각, 통전 필요)
  • 일반 해상도 : 123ev, 133ev (50000CPS)
  • Input Counting Rate : 100KCPS, Si-Pin 과 Si-Li 보다 월등히 큼 (대략 10배)
  • Peak-to-Background Ratio : 20000 이상
  • Beryllium window 두께 : 8 um Dura Beryllium (일반적인 Detector의 두께는 25 um 이므로, 가벼운 원소에 대해 우수한 투과율을 보이며, 독특한 Dura 기술을 갖고있습니다.)
  • Beryllium window는 산, 알칼리의 부식에 내성을 가집니다.
  • 프로세서 : 디지털 회로, 배수 확대, 시간상수 임의설정 가능
  • 긴 수명과 특수한 Dura Beryllium의 기술로 수년간의 진공실험에도 기기와 결정이 손상되지 않습니다. 향후 유지 보수 비용에 대해 걱정할 필요가 없습니다.

 

2.     X-Ray Tube

  • 고압 : 0-50 kV 연속 조정 가능
  • 전류 : 0-1000uA 연속 조정 가능 (0-2500uA 선택 가능, 높은 전류는 Na – K 범위에서 더 나은 격발효과를 나타냅니다.)
  • 전력 : 50 W
  • 안정성 : 8시간, 0.2%
  • 높은 수명, 올바르게 작동시 50000시간까지 사용할 수 있습니다.

 

3.     고전압 발생기

  • 입력 전압 : 24 VDC
  • 입력 전류 : 4 A
  • 출력 전압 : 50 kV, 1 mA (2.5 mA 선택 가능, 2500 mA X-Ray Tube 에 적합합니다.)
  • 최대 전력 : 50 W
  • 안정성 : 8시간, 0.05%

 

4.     정밀 구조 설계

  • Vertical Chamber Design, 우수한 반복성과 재현성을 보장하는 정밀한 컨트롤, 상단 조명식 설계로 먼지에 의한 오염을 완전히 차단하며 기기의 유지보수 또한 필요없어집니다.

 

5.     냉각/산열 시스템

  • 우수한 품질의 멀티 온도 제어 자체 피드백 회로입니다. 실내온도 5-25℃ 유지시 기기에 영향을 주지 않습니다.

 

6.     자동 샘플링 시스템

  • 8개 샘플을 자동으로 검사합니다.

 

7.     스펙트럼 분석 시스템과 컨트롤 및 데이터 처리 시스템

  • 12 bit AD Converter
  • 19 Inch LCD Display
  • 500G 이상의 HD
  • Multi-Functional Standard Keyboard
  • Printer

 

8.     분석 소프트웨어

  • 원소 측정 범위 : Na – U
  • 코팅 두께 측정 가능
  • 표준곡선법, 이론계수법, 기본모수법, 다원비례법으로 다양한 샘플을 손쉽게 분석할 수 있습니다.
  • 개방형 소프트웨어 디자인으로 새로운 작업 곡선을 직접 개발할 수 있습니다.
  • 내장형 파라미터 디자인으로 직접 작업 곡선 제작시 모든 종류의 간섭은 자동 제거됩니다.

 

9.     규격

  • 900 mm(L) x 500 mm(W) x 620 mm(H)
  • 무게 약 100 kg

 

10.  필요 전원

  • 220VAC ± 10% 50Hz

 

11.  작업 환경

  • 온도범위 : 5 - 30℃
  • 상대습도 80% 이하

 

DF-1000 X-Ray Fluorescence Spectrometer


 

Dandong Aolong Radiative Instrument Group, China
https://www.yeonjin.com/xrf
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