메뉴 건너뛰기
모바일 메뉴버튼
Home
Products
다축 미세점착력 측정기
열분석기 (ARC, DEA, Auto TGA)
ㄴ Accelerate Rate Calorimeter, ARC [THT]
ㄴ 유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
Multi-axis Micro Texture Analyzer
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
ㄴ Gas Leak Detection Equipment
정성정량분석기기 (HPLC+GC-MS, IC, FTIR, XRD)
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
ㄴ 등온배터리칼로리미터
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
재료물성분석기 (UTM) 및 잔류응력 측정기 (XRD)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
연소 및 폭주특성 시험기 (Fire Testing Equipment)
온라인 측정분석기 (Online Analyzers)
원소분석기 (XRF, AAS, Spark-OES, AES-OES)
ㄴ XRF
ㄴ Arc Spark-OES
General Instruments
ㄴ UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
ㄴ 전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
ㄴ 유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
ㄴ Titration
ㄴ Spectrophotometers
ㄴ pH Meter
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ UV 광경화 시스템 개요
ㄴ Fluid Aeration
인라인 분석기
ㄴ 발열량 측정 및 원소분석, 공업분석 무인자동화
ㄴ 인라인 성분분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
Application
ㄴ ARC 가속속도열량계
ㄴ 유전율측정기 (열경화 및 UV광경화거동 분석기)
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Blog
제품 및 서비스 문의
Product List
동영상 자료
분석기기론
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
조직도 (Organization)
Our Global Partners
채용정보 (Careers)
Location
연락처
통합 검색
로그인
회원가입
로그인
회원가입
Home
Products
다축 미세점착력 측정기
열분석기 (ARC, DEA, Auto TGA)
ㄴ Accelerate Rate Calorimeter, ARC [THT]
ㄴ 유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
Multi-axis Micro Texture Analyzer
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
ㄴ Gas Leak Detection Equipment
정성정량분석기기 (HPLC+GC-MS, IC, FTIR, XRD)
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
ㄴ 등온배터리칼로리미터
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
재료물성분석기 (UTM) 및 잔류응력 측정기 (XRD)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
연소 및 폭주특성 시험기 (Fire Testing Equipment)
온라인 측정분석기 (Online Analyzers)
원소분석기 (XRF, AAS, Spark-OES, AES-OES)
ㄴ XRF
ㄴ Arc Spark-OES
General Instruments
ㄴ UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
ㄴ 전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
ㄴ 유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
ㄴ Titration
ㄴ Spectrophotometers
ㄴ pH Meter
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ UV 광경화 시스템 개요
ㄴ Fluid Aeration
인라인 분석기
ㄴ 발열량 측정 및 원소분석, 공업분석 무인자동화
ㄴ 인라인 성분분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
Application
ㄴ ARC 가속속도열량계
ㄴ 유전율측정기 (열경화 및 UV광경화거동 분석기)
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Blog
제품 및 서비스 문의
Product List
동영상 자료
분석기기론
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
조직도 (Organization)
Our Global Partners
채용정보 (Careers)
Location
연락처
GNB 메뉴 닫기
전자기 물성분석기
Electromagnetic analyzers
Home
>
Products
>
General Instruments
>
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
신원 확인
신원 확인
이메일
비밀번호
확인
맨 위로