메뉴 건너뛰기
모바일 메뉴버튼
Home
Products
Multi-axis Micro Texture Analyzer
ㄴ 고성능 미세점착력 측정기
ㄴ 다축 미세재료 물성분석기
ㄴ 고성능 마찰계수측정기
유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
정성정량분석기기 (OES- RGA, HPLC+GC-MS, IC, FTIR)
ㄴ OES 잔류가스분석기
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation System (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
만능재료시험기 (UTM) 및 물성분석기 (TXA)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analyzer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 개요
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
열분석기 (DEA, Wafer chuk, Auto TGA)
General Instruments
ㄴ 연소 및 폭주특성 시험기 (Fire Testing Equipment)
ㄴ Spectrophotometers
ㄴ 온라인 측정분석기 (Online Analyzers)
ㄴ Titration
ㄴ pH Meter
ㄴ 원소분석기 (XRF, AAS, Spark-OES, AES-OES)
액세서리 및 소모품
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ Fluid Aeration
ㄴ 인라인 분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
ㄴ 진공 박막증착 타겟
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Product List
제품 및 서비스 문의
동영상 자료
분석기기론
Blog
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
인증 및 특허
조직도 (Organization)
Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
통합 검색
로그인
회원가입
로그인
회원가입
Home
Products
Multi-axis Micro Texture Analyzer
ㄴ 고성능 미세점착력 측정기
ㄴ 다축 미세재료 물성분석기
ㄴ 고성능 마찰계수측정기
유전율측정기 (DEA, Dielectric Cure Monitor)
정성정량분석기기 (OES- RGA, HPLC+GC-MS, IC, FTIR)
ㄴ OES 잔류가스분석기
ㄴ 크로마토그래피
열물성분석기 (열전도도, 회융점, Tm, Hot/cold stage)
ㄴ Hot / Cold Microscopic Stage
ㄴ 미소수화열측정기
ㄴ Oxygen Bomb Calorimeter
진공증착장비 (Vacuum Deposition System)
ㄴ Thin Film Deposition System
ㄴ ALD Atomic Layer Deposition System
ㄴ Combined ALD and PVD System
ㄴ TSST PLD System, Pulsed Laser Deposition
ㄴ MBE System, Dr. Eberl MBE-Komponenten
ㄴ Magnetron Sputtering System
ㄴ Evaporation System (Evaporator)
ㄴ PVD, CVD, Evaporation, Etching System
만능재료시험기 (UTM) 및 물성분석기 (TXA)
ㄴ 물성분석기 (Texture Analyzer)
ㄴ Material Test Machines, Testresources, USA
UV 광경화 시스템 개요
전자기 물성분석기 (Electromagnetic analyzers)
유변물성분석기 (점도계, 인라인점도계, 레오미터)
열량계 (Isothermal, Reaction, Adiabatic Calorimeter)
열분석기 (DEA, Wafer chuk, Auto TGA)
General Instruments
ㄴ 연소 및 폭주특성 시험기 (Fire Testing Equipment)
ㄴ Spectrophotometers
ㄴ 온라인 측정분석기 (Online Analyzers)
ㄴ Titration
ㄴ pH Meter
ㄴ 원소분석기 (XRF, AAS, Spark-OES, AES-OES)
액세서리 및 소모품
Solutions
소재 및 산업별 장비 솔루션
기기별 어플리케이션
물성별 솔루션 및 측정장비
기기 분석 시험법에 따른 측정분석기기
공정 장비 Process System
ㄴ 펨토초 미세가공시스템 (Micro-machining System)
ㄴ 플라즈마 표면처리기
ㄴ UV 광경화 시스템 (UV Curing Systems)
ㄴ Vacuum Soft-Etching
ㄴ 웨이퍼 척 (Wafer Chuck)
ㄴ Thermal Plate (인스텍 핫/콜드 플레이트)
ㄴ Vacuum Thermal Processing
ㄴ Electrical Thermal Probe Systems
ㄴ Fluid Aeration
ㄴ 인라인 분석기
Service
측정분석기술 컨설팅
진공 박막증착 (코팅) 서비스
액세서리 및 소모품
ㄴ UTM Test Fixtures
ㄴ TGA & DSC 열분석 샘플팬
ㄴ 나노입자 생성 및 증착 소스
ㄴ 스퍼터 소스
ㄴ 진공 박막증착 타겟
Application
ㄴ 박막증착 및 코팅
ㄴ UTM 만능재료시험기
ㄴ 잔류응력측정기 (XRD)
Software
Customer Center
Product List
제품 및 서비스 문의
동영상 자료
분석기기론
Blog
회사소개
Introduction
연혁 (Our history)
인증 및 특허
조직도 (Organization)
Global Partners
채용정보 (Careers)
연락처 및 위치
GNB 메뉴 닫기
Search
Our Products and Solutions
Home
>
Search Products and Solutions
통합 검색
제목+내용
제목
내용
단종품
EV-ARC Accelerating Rate Calorimeter
영국 Thermal Hazard Technology (THT)사 ARC는 단열환경(Adiabatic condition)에서 대소형 배터리의 열안정성을 측정하기 위해 고안된 ARC로
댓글 0
0
26,227
첨부파일
YEONJIN
2007-10-25
수정 2025-12-01
단종품
IBC 등온 배터리열량계 - µBC - micro Battery Calorimeter (Isothermal Battery Calorimeter Cell format: Coin Cell)
µBC - micro Battery Calorimeter Measure heat release under isothermal conditions during charge/disch
댓글 0
0
17,804
첨부파일
YEONJIN
2007-10-25
수정 2025-12-01
단종품
ARC, Accelerating Rate Calorimeter for Chemicals
THT사의 ARC는 화약과 폭약, 반응성이 높은 물질 (high energetic material)의 폭주온도와 폭발압, 자가발열 온도를 측정하는 기기로써, Heat-Wait-Se
댓글 0
0
23,816
첨부파일
YEONJIN
2007-10-25
수정 2025-12-01
보유기기(시험분석기기 목록 및 측정 기술)
시차주사열량계 (DSC) - 측정분석 서비스
당사에서 보유한 DSC는 0.04 μW의 감도로 엔탈피-비열변화를 측정하는 고감도 DSC로써, 매우 다양한 특성의 측정분석 서비스가 가능합니다. Glass transition te
댓글 0
0
3,367
첨부파일
YEONJIN
2007-10-07
수정 2025-11-10
분석기기론
열분석 응용사례 요약
1. DSC (Differential Scanning Calorimeter; 시차주사열량계) 엔탈피 변화 (Enthalpy change)측정 Glass transition temp
댓글 0
0
31,464
첨부파일
YEONJIN
2007-09-04
수정 2020-02-29
분석기기론
DMA를 이용한 고분자 물질의 동적점탄성 특성 측정
Introduction 1) 이상 고체(ideal solids)는 탄성물질 (elastic materials)로써 변형에너지를 저장하며 변형이 제거되면 원래의 모양으로 회복된다.
댓글 0
0
42,041
YEONJIN
2007-03-04
수정 2020-02-28
분석기기론
TMA, 열기계분석기, Thermomechanical Analysis Vol. 1
TMA(Thermomechanical Analyzer, 열기계분석기)는 시료에 온도프로그램을 가하여 온도와 시간의 함수로써 팽창과 수축에 의한 크기변화(dimension chan
댓글 0
0
39,306
첨부파일
YEONJIN
2005-10-31
수정 2020-02-28
분석기기론
주요 고분자의 열분석 항목
1. Polyethylene, PE Polyethylene, PE, is a semicrystalline thermoplastic polymer. Different producti
댓글 0
0
21,560
YEONJIN
2005-10-18
수정 2020-02-29
분석기기론
열분석기 분석前 체크 리스트
열분석은 다른 분석 기기와는 판이하게 다른 응용 범위를 가지고 광범위한 의미의 물성예측이 가능한 분석 분야이다. 따라서 분석 전에 어떠한 개념을 가지고 분석에임하며 분석 목적이
댓글 0
0
12,716
YEONJIN
2005-09-02
수정 2020-02-29
분석기기론
열용량, 유리전이 현상을 설명하는 열쇠
열용량, 유리전이 현상을 설명하는 열쇠 [출처 : http://www.sciencedaily.com : 2000년 04월 13일] 강도(rigidity)와 규칙성(orderline
댓글 0
0
16,895
YEONJIN
2005-08-31
수정 2020-02-29
분석기기론
TGA, 열중량분석기, Thermo gravimetric Analyzer Vol. 1
열중량분석기(TGA)는 시료에 온도프로그램을 가하여 시간이나 온도의 함수로써 시료와 시료의 조성에 따른 질량변화(changes in mass)를 측정한다. 연구목표 1. TGA
댓글 0
0
52,067
첨부파일
YEONJIN
2005-07-02
수정 2020-02-28
분석기기론
열분석이란 (What is Thermal Analysis)? III
플라스틱 재활용 산업에서의 중요한 application은 DSC를 이용한 미지의 고분자 식별(identification)이다. 이는 특히 용융이 확연한 준결정성고분자(semicr
댓글 0
0
29,284
첨부파일
YEONJIN
2005-06-03
수정 2020-02-29
1
2
...
129
130
131
132
133
134
135
136
137
136
/
137
문의
하기
맨 위로